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深圳市仞铢精密量仪有限公司

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日本nikon尼康MH-15M数显高度计高精度0.7µm半导体厚度测量晶圆厚度测量仪光学镜片厚度测量仪MS-51C

MH-15M数显高度计
MH-15M＋TC-200 计数器
测量范围：0～15mm
最小读数值：0.01µm
精度（20℃）：0.7µm

产品详情：

型号: MH-15M标配

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